会议背景

会议主题:迎接5G与IoT融合时代的测试挑战

会议时间:2023年 6月27日上午
会议地点:北京国家会议中心展览区二层E232会议室

第九届国际测试仪器应用大会是由《国产AV产品世界》杂志社主办,是第12届国防电子展览会的同期官方论坛,在展览中的会议专区举办,每次会议都吸引到超过200名的专业听众参与。会议将邀请国内外顶尖的测试技术和解决方案提供商,共同探索5G时代的物联网融合应用的测试发展趋势,为参会者带来最新最全的测试系统解决方案。

从以传感器为基础的物联网时代,到全面火爆的人工智能(AI)时代,智能化与万物互联的互相融合已经成为不可阻挡的技术潮流,深刻地影响着整个社会的进程。而谈到2023年,5G和无人驾驶则是当之无愧的技术焦点。

诞生于高性能雷达传输的5G技术依靠更快速度、更多连接、更低时延、更高可靠性的优势,将打通多种应用融合的桥梁,实现真正的5G与IoT等热门应用的全面融合。正如中国工程院邬贺铨院士认为,5G的增强移动宽带、高可靠低时延和广覆盖大连接及与边缘计算的结合,使得人工智能与物联网融为一体,5G+传感器+IoT的全面融合,配合云端智能的应用体验,将会诞生更为复杂,对可靠性要求更高的电子系统,这是对测试技术提出的全新挑战。

会议日程

时间 演讲主题 演讲嘉宾
09:25-09:30 开场介绍
09:30-10:00 鼎阳科技-物联网测试解决方案 李旸
鼎阳科技 市场总监
10:00-10:30 生态圈在测试应用中的重要性 陈大庞 博士
简仪科技有限公司 创始人
10:30-11:00 新一代军用电源设备及电子设备测试方案 孔玉
艾德克斯电子(南京)有限公司 技术经理
11:00-11:30 芯片与材料超声无损检测技术及应用研究 胡志臣
北京航天测控技术有限公司
电子测量仪器产品事业部 主任 研究员
11:30-12:00 现场可重构微波综合测试技术 宋志刚
思仪科技 高级工程师 产品经理

支持企业

往届回顾

第八届国际测试与仪器应用大会

当代的测试技术,已经不再主要依靠简单的单台仪器解决问题,帮助客户解决问题的软硬件结合的测试系统逐渐成为市场需求的主流,面对复杂的测试需求和强大的待测任务,如何提供高效、易用又具有成本优势的测试系统将成为测试仪器竞争的关键。为此,我们特别邀请国内外最领先的测试技术和测试仪器企业,共同为参会的电子技术工程师、设计师以及相关研究人员带来最新的关于高速高性能信号测试以及测试系统辅助设计的最权威解决方案。

第七届国际测试与仪器应用大会

从抗战胜利大阅兵到大飞机下线,仅仅过去的一年间,我们就见证了中国科技实力的不断飞跃。中国是全世界仅有的几个拥有全面测试需求的市场,在国防电子、航空航天、无人机、雷达、高性能科研,前沿科技等领域正逐渐成为世界最大的测试应用市场。民用测试需求方面亦毫不逊色,中国已经成为汽车电子最大的市场,5G研发投入的规模领先全世界,庞大的高铁网络冠绝全球,电力网络的容量和规模无人可及。

第六届国际测试与仪器应用大会

LTE商用和多模测试的挑战与测试解决方案 、高带宽和高频信号的产生与分析技巧、 射频与高复杂度无线系统的信号捕获与分析 、导航及卫星系统测试需求分析及技巧 、高速数据采集和分析系统的搭建与应用 、面向特定应用的自动化系统测试设计与检测方案 、高品质测试技术的发展趋势与应用技巧

第五届国际测试与仪器应用论坛(IMFAF2012)

测试测量技术的发展与电子行业的发展密不可分,电子行业的主要发展动力持续来源于对体积更小、功能更强、更多互联通信、更多互联计算产品的需求。为满足这些需求,制造商不断推出新产品,将新的无线协议、新的电池技术、新元件及半导体等各种技术集成在这些新产品当中。

第四届国际测试仪器及应用技术大会

测试测量技术始终保持着广泛而活跃的市场需求,特别是在被动元件测试和高性能电子测试上的发展潜力巨大。扩大内需的政府举措更是给测试测量产业发展的巨大空间,其中很大一部分投入集中在与国防、航空航天和高性能测试领域,促使中国高端测试测量市场逆势上扬,保持旺盛的活力。

第三届国际测试与仪器应用论坛(IMFAF2010)

伴随着金融危机的到来,消费电子领域市场面临极大的挑战。然而,随着中国国内电子产业的继续深化,即使面对并不景气的经济形势,测试测量技术依然有广泛而活跃的市场需求。扩大内需的政府举措更是给测试测量产业发展的巨大空间,其中很大一部分投入集中在与国防、航空航天和高性能测试领域,促使中国高端测试测量市场逆势上扬,保持旺盛的活力。

第二届国际测试与仪器应用大会

随着电子技术的大量运用,工业领域对测试测量的依赖性更强,准确性和测试性能的需求更为苛刻,具有整体性、精确性好的高性能测试设备是确保系统安全、稳定的关键。 中国是世界上测试测量需求发展最快的市场,测试测量技术在各个领域有着极为广泛的应用发展空间。

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